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LED電源の信頼性をテストするには?

LED電源の信頼性をテストするには?


1. 入力電圧が出力電圧に影響を与えることを示すいくつかの形式のインジケータを記述する


(1) 電圧調整係数


(1)絶対電圧調整係数K


これは、負荷が変化しない場合の入力系統電圧変化△Uiに対する安定化電源の出力直流電圧変化△Uoの比、すなわちK=△Uo/△Uiを意味する。


(2) 相対電圧調整係数S


負荷が変化しない場合の入力系統電圧Uiの相対変化△Ui/Uiに対する電圧安定化装置の出力直流電圧Uiの相対変化△Uo/Uoの比、すなわちS=△Uo/△Ui/Uiを表す。


(2)電力網調整率


入力系統電圧が定格値から+/-10%変化したときの安定化電源の出力電圧の相対変化を示し、絶対値として表すこともある。


(3) 電圧安定性


負荷電流は定格範囲内の任意の値に維持され、指定範囲内の入力電圧の変化によって生じる出力電圧の相対変化△Uo/Uo(百分率値)を電圧安定器の電圧安定性と呼びます。


2. 出力電圧に対する負荷の影響のいくつかの指標形式


(1) 負荷レギュレーション(電流レギュレーションとも呼ばれる)


定格グリッド電圧では、負荷電流がゼロから大きな値に変化すると、出力電圧のより大きな相対変化は通常パーセンテージで表され、時には絶対変化としても表されます。


(2) 出力抵抗(等価内部抵抗または内部抵抗とも呼ばれる)


定格系統電圧では、負荷電流△ILの変化により出力電圧が△Uo変化し、出力抵抗はRo=|△Uo/△IL|Ωとなります。


3. リップル電圧のいくつかのインデックス形式


(1) リップル電圧が大きい


定格出力電圧および負荷電流の下では、出力電圧リップル(ノイズを含む)の絶対値は、通常、ピーク値またはrms値で表される。


(2)リップル係数Y(%)


定格負荷電流の下では、出力直流電圧Uoに対する出力リップル電圧の実効値Urmsの比率、すなわちY=Umrs/Uox100%。


(3) リップル電圧除去比


指定されたリップル周波数(例えば50HZ)の下では、出力電圧におけるリップル電圧Uo〜に対する入力電圧におけるリップル電圧Ui〜の比、すなわち、リップル電圧抑制比=Ui〜/Uo〜。


4. すべての電気的要件


(1) 電源構造の充実


(1)スペース要件


UL、CSA、およびVDEのフル仕様では、通電部品間、および通電部品と非通電金属部品間の表面距離とスペース距離の要件が強調されています。


ULおよびCSA要件:電極間電圧が250VAC以上の高電圧導体間、および高電圧導体と非活金属部品(ここではワイヤを除く)の間、表面またはスペース間に関係なく、0.1ウッドホーが存在する必要があります。VDEには、ACワイヤ間に3mmのクリープまたは2mmのクリアランスが必要です。IEC要件:ACワイヤ間の3mmクリアランスとACワイヤと接地導体間の4mmクリアランス。さらに、VDEとIECは、電源の出力と入力の間に少なくとも8mmのスペースを必要とします。


(2)誘電体実験試験方法


高電圧:入力と出力、入力とグランド、および入力ACの間。


(3)リーク電流測定


リーク電流は、入力側のアース線に流れる電流であり、スイッチング電源では、主にノイズ抑制フィルタのバイパスコンデンサを流れるリーク電流である。ULとCSAはどちらも、露出した未充電の金属部品をグランドに接続する必要があります。リーク電流は、これらの部品とグランドの間に1.5kΩの抵抗を接続することによって測定され、リーク電流は5mmAを超えてはなりません。


VDEでは、1.5kΩの抵抗を150nPFコンデンサと並列に接続し、定格動作電圧の1.06倍を印加することができます。データ処理装置の場合、リーク電流は3.5mA(一般に約1mA)を超えてはなりません。


(4)絶縁抵抗試験


VDE要件:入力と低電圧出力回路の間に7MΩの抵抗、アクセス可能な金属部品と入力の間に2MΩの抵抗、または1分間の500V DC電圧が必要です。


(5)プリント基板


ULリスト94V-2以上の材料が必要です。


(2)電力変圧器の構造に関する完全な要件


(1)変圧器の絶縁


変圧器の巻線に使用する銅線はエナメル線で、他の金属部品は磁器や塗料などの絶縁物質でコーティングする必要があります。


(2)変圧器の絶縁耐力


実験中に絶縁亀裂やアーク放電が発生しないようにしてください。


(3)変圧器の絶縁抵抗


変圧器の巻線間の絶縁抵抗は10MΩ以上とし、巻線と磁気コア、スケルトン、シールド層との間に500ボルトの直流電圧を1分間印加し、絶縁破壊やアーク放電は発生させないでください。


(4)変圧器の耐湿性


変圧器は、湿気の多い環境に置かれた直後に絶縁抵抗と絶縁耐力についてテストされ、要件を満たす必要があります。湿度の高い環境は一般的に、相対湿度は92%(許容誤差は2%)、温度は20°C〜30°Cの間で安定しており、誤差は1%です。このとき、変圧器自体の温度は、湿気の多い環境に入る前のテストよりも4°C高くてはなりません。


(5) 変圧器の温度特性に関するVDE要件


(6)変圧器温度特性に関するUL、CSA要件


5. 電磁適合性試験


電磁両立性とは、デバイスまたはシステムが、環境内の何にも許容できない電磁干渉を引き起こすことなく、一般的な電磁環境で正常に動作する能力を指します。


電磁干渉波には一般に2つの伝搬経路があり、各経路に応じて評価する必要があります。1つは、より長い波長帯域で電力線に伝搬して発光領域(一般に30MHz未満)に干渉することです。このような長波長周波数は、電子機器に取り付けられた電源コードの長さの1波長未満であり、かつ空間に放射される放射線量も少ない。このことから、LED電源コードに発生する電圧を把握し、伝導ノイズと呼ばれる干渉の大きさを十分に評価することができます。


周波数が30MHz以上になると、波長も短くなります。このとき、電力線で発生するノイズ源電圧のみが評価されれば、実際の干渉と一致しない。そこで、空間に伝播する干渉波を直接測定してノイズの大きさを評価する方法を採用し、そのノイズを放射ノイズと呼びます。


放射ノイズの測定には、電界の強さに応じて空間を伝播する干渉波を直接測定する方法と、電源ラインに漏れた電力を測定する方法の2種類があります。


電磁適合性試験には、以下の試験内容が含まれます。


(1)磁場感度


(免疫)電磁放射への曝露に対する装置、サブシステムまたはシステムの望ましくない応答の程度。感度レベルが低いほど、感度が高くなり、ノイズ耐性が低くなります。固定周波数、ピークツーピーク磁界試験を含む。


(2)静電気放電感度


異なる静電ポテンシャルを有する物体の近接または直接接触によって引き起こされる電荷移動。300PFコンデンサは15000Vに充電され、500Ωの抵抗を介して放電されます。それは許容範囲外である可能性がありますが、終了後は正常であるはずです。テスト後、データ伝送とストレージが失われることはありません。


(3)LED電源過渡感度


スパイク信号感度(0.5μs、10μs2倍)、電圧過渡感度(10%~30%、30S回復)、周波数過渡感度(5%~10%、30S回復)を含む。


(4)放射線感度


機器を劣化させる放射干渉フィールドの尺度。(14kHz〜1GHz、電界強度は1V / Mです)。


(5)伝導感度


デバイスの望ましくない応答を引き起こしたり、パフォーマンスを低下させたりする場合。


電源、制御、または信号ライン(30Hz~50kHz/3V、50kHz~400MHz/1V)上の干渉信号または電圧の尺度。


(6) 非作動状態での磁場干渉


パッキンボックスは4.6mで、磁束密度は0.525μT未満です。0.9m、0.525μT.


(7) 動作状態における磁界干渉


上下左右の交流磁束密度は0.5mT未満である。


(8) 伝導干渉 干渉は導体に沿って伝播しました。10kHz~30MHz、60(48)dBμV.


(9)放射干渉:電磁波の形で空間を透過する電磁干渉。


10kHz~1000MHz、30シールドルーム60(54)μV/m。